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首頁(yè) > 新聞中心 > 可程式高低溫試驗(yàn)箱國(guó)標(biāo)規(guī)定的試驗(yàn)準(zhǔn)則:上海巨怡環(huán)測(cè)制造
可程式高低溫試驗(yàn)箱國(guó)標(biāo)規(guī)定的試驗(yàn)準(zhǔn)則:上海巨怡環(huán)測(cè)制造
點(diǎn)擊次數(shù):1281 更新時(shí)間:2015-06-01

國(guó)標(biāo)GB/T2423.4-2008適用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高濕度與溫度循環(huán)變化組合且通常會(huì)在試驗(yàn)樣品表面產(chǎn)生凝露的條件下使用、運(yùn)輸和貯存的適應(yīng)性。如果本試驗(yàn)用于檢驗(yàn)帶包裝樣品在運(yùn)輸和貯存過(guò)程中的性能時(shí),應(yīng)帶包裝一起進(jìn)行試驗(yàn)。

對(duì)于小的,質(zhì)量輕的樣品使用本試驗(yàn),在樣品表面產(chǎn)生凝露可能比較困難;用戶應(yīng)考慮使用其他替代試驗(yàn),如GB/T2423.34-2005。

國(guó)標(biāo)GB/T2423.4-2008規(guī)范性引用文件如下:

GB/T2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1部分:總則

GB/T2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ)

GB/T2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

GB/T2423.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)。

上海巨怡環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備有限公司專業(yè)制造:高低溫試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫交變箱、冷熱沖擊箱、鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱、鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī)、氙燈耐氣候試驗(yàn)箱、紫外線老化箱、淋雨試驗(yàn)箱、沙塵老化箱、步入式高低溫實(shí)驗(yàn)室、高溫老化箱等各種環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備,: